ชุดศึกษากล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม

Basic methods in imaging of micro and nanostructures with AFM (Atomic Force Microscopy)
Item No. P2538000

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม  เป็นเครื่องมือวิเคราะห์ที่สามารถใช้ในการศึกษาพื้นผิวของวัสดุแข็ง รวมถึงฉนวน ตรวจสอบโครงสร้างพื้นผิวและคุณสมบัติของสสารโดยการตรวจจับแรงระหว่างอะตอมที่อ่อนแอมากระหว่างพื้นผิวของตัวอย่างที่จะวัดและองค์ประกอบที่ไวต่อแรงขนาดเล็ก

Learning objectives

• Atomic Force Microscopy (AFM)
• Lennard-Jones potential
• Imaging of nano structures
• Static Force Mode
• Dynamic Force Mode
• Feedback loop
• Force
• Vibrational amplitude Software included. Computer not provided.